SN54AC00-SP
- 5962R87549:
- Radiation hardness assurance (RHA) up to TID 100 krad (Si)
- SEL immune to 86 MeV×cm2/mg
- 5962-87549:
- Total ionizing dose 50 krad (Si)
- 2 V to 6 V VCC operation
- Inputs accept voltages to 6 V
- Maximum tpd of 7 ns at 5 V
The SN54AC00 device contains four independent 2-input NAND gates. Each gate performs the Boolean function of Y = A • B or Y = A + B in positive logic.
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功能相同,但引腳輸出與所比較的裝置不同
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* | Data sheet | SN54AC00-SP Radiation Hardened Quad 2 Input NAND Gate datasheet (Rev. C) | PDF | HTML | 2022年 4月 4日 |
* | Radiation & reliability report | 54AC00-SP Radiation Assured Devices | 2016年 4月 21日 |
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