SN74ACT08-EP
- Controlled Baseline
- One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
- Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
- Enhanced Product-Change Notification
- Qualification Pedigree
- 4.5-V to 5.5-V VCC Operation
- Inputs Accept Voltages to 5.5 V
- Max tpd of 10 ns at 5 V
- Inputs Are TTL-Voltaage Compatible
Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
The SN74ACT08 is a quadruple 2-input positive-AND gate. This device performs the Boolean functions Y = A B or Y = A\ + B\ in positive logic.
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技術文件
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檢視所有 12 類型 | 標題 | 日期 | ||
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* | Data sheet | SN74ACT08-EP datasheet | 2004年 9月 28日 | |
* | VID | SN74ACT08-EP VID V6204759 | 2016年 6月 21日 | |
Application note | Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) | 2021年 7月 26日 | ||
Selection guide | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||
Application note | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||
User guide | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||
Application note | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||
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Application note | TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes | 2002年 8月 29日 | ||
Application note | CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) | 1997年 6月 1日 | ||
Application note | Designing With Logic (Rev. C) | 1997年 6月 1日 | ||
Application note | Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc | 1996年 4月 1日 |
設計與開發
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封裝 | 針腳 | CAD 符號、佔位空間與 3D 模型 |
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SOIC (D) | 14 | Ultra Librarian |
訂購與品質
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- RoHS
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- 產品標記
- 鉛塗層/球物料
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- 進行中持續性的可靠性監測
內含資訊:
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