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SN74HCS264-Q1

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Registros de desplazamiento en serie con salida paralela de 8 bits de calidad automotriz

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SN74HCS264-Q1

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Detalles del producto

Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 8 Technology family HCS Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 62 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Supply current (max) (µA) 2 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
Configuration Serial-in, Parallel-out Bits (#) 8 Technology family HCS Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 62 IOL (max) (mA) 7.8 IOH (max) (mA) -7.8 Supply current (max) (µA) 2 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Automotive
SOIC (D) 14 51.9 mm² (8.65 mm × 6 mm) TSSOP (PW) 14 32 mm² (5 mm × 6.4 mm)
  • AEC-Q100 Qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
    • Device HBM ESD Classification Level 2
    • Device CDM ESD Classifcation Level C6
  • Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
  • Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
  • Low power consumption
    • Typical ICC of 100 nA
    • Typical input leakage current of ±100 nA
  • 7.8-mA output drive at 6 V
  • AEC-Q100 Qualified for automotive applications:
    • Device temperature grade 1: –40°C to +125°C, TA
    • Device HBM ESD Classification Level 2
    • Device CDM ESD Classifcation Level C6
  • Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
  • Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
  • Low power consumption
    • Typical ICC of 100 nA
    • Typical input leakage current of ±100 nA
  • 7.8-mA output drive at 6 V

The device contains an 8-bit shift register with AND-gated serial inputs and an asynchronous clear (CLR) input. Data at the serial inputs can be changed while CLK is high or low, provided the minimum setup time requirements are met. All inputs include Schmitt-trigger architecture, adding noise margin and eliminating any input transition rate requirement. Clocking occurs on the low-to-high-level transition of CLK.

Upon a clock trigger, the device will store the result of the (A ● B) input data line in the first register and propagate each register’s data to the next register. The outputs are inverted from the data stored.

The device contains an 8-bit shift register with AND-gated serial inputs and an asynchronous clear (CLR) input. Data at the serial inputs can be changed while CLK is high or low, provided the minimum setup time requirements are met. All inputs include Schmitt-trigger architecture, adding noise margin and eliminating any input transition rate requirement. Clocking occurs on the low-to-high-level transition of CLK.

Upon a clock trigger, the device will store the result of the (A ● B) input data line in the first register and propagate each register’s data to the next register. The outputs are inverted from the data stored.

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* Hoja de datos SN74HCS264-Q1 Automotive 8-Bit Parallel-Out Serial Shift Registers datasheet 13/07/2020

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Placa de evaluación

14-24-LOGIC-EVM — Módulo de evaluación genérico de productos lógicos para encapsulados D, DB, DGV, DW, DYY, NS y PW de

El módulo de evaluación (EVM) 14-24-LOGIC-EVM está diseñado para admitir cualquier dispositivo lógico que se encuentre en un encapsulado D, DW, DB, NS, PW, DYY o DGV de 14 a 24 pines.

Guía del usuario: PDF | HTML
Productos y hardware compatibles
En inventario
Límite:
??asset.out-of-stock-ti_es_MX??
No disponible
Modelo de simulación

SN74HCS264 IBIS Model

SCEM773.ZIP (51 KB) - Modelo IBIS
Productos y hardware compatibles
Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

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