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SN74AUP1G126

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3 ステート出力、シングル、0.8V ～ 3.6V、低消費電力バッファ

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SN74AUP1G126

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製品詳細

Technology family AUP Number of channels 1 IOL (max) (mA) 4 Supply current (max) (µA) 0.9 IOH (max) (mA) -4 Input type Standard CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family AUP Number of channels 1 IOL (max) (mA) 4 Supply current (max) (µA) 0.9 IOH (max) (mA) -4 Input type Standard CMOS Output type 3-State Features Balanced outputs, Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
X2SON (DSF) 6 1 mm² (1 mm × 1 mm) DSBGA (YZP) 5 2.1875 mm² (— mm × — mm) SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² (2.9 mm × 2.8 mm) SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² (2 mm × 2.1 mm) USON (DRY) 6 1.45 mm² (1.45 mm × 1 mm) X2SON (DPW) 5 0.64 mm² (0.8 mm × 0.8 mm) DSBGA (YFP) 6 1.4000000000000001 mm² (— mm × — mm) SOT-5X3 (DRL) 5 2.56 mm² (1.6 mm × 1.6 mm)
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Performance Tested Per JESD 22−
    • 2000-V Human-Body Model
      (A114-B, Class II)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Available in the Texas Instruments NanoStar™ Package
  • Low Static-Power Consumption
    (ICC = 0.9 µA Maximum)
  • Low Dynamic-Power Consumption
    (Cpd = 4 pF Typical at 3.3 V)
  • Low Input Capacitance (Ci = 1.5 pF Typical)
  • Low Noise – Overshoot and Undershoot
    <10% of VCC
  • Input-Disable Feature Allows Floating Input Conditions
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Input Hysteresis Allows Slow Input Transition and Better Switching Noise Immunity at Input
  • Wide Operating VCC Range of 0.8 V to 3.6 V
  • Optimized for 3.3-V Operation
  • 3.6-V I/O Tolerant to Support Mixed-Mode Signal Operation
  • tpd = 4.6 ns Maximum at 3.3 V
  • Suitable for Point-to-Point Applications
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Performance Tested Per JESD 22−
    • 2000-V Human-Body Model
      (A114-B, Class II)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Available in the Texas Instruments NanoStar™ Package
  • Low Static-Power Consumption
    (ICC = 0.9 µA Maximum)
  • Low Dynamic-Power Consumption
    (Cpd = 4 pF Typical at 3.3 V)
  • Low Input Capacitance (Ci = 1.5 pF Typical)
  • Low Noise – Overshoot and Undershoot
    <10% of VCC
  • Input-Disable Feature Allows Floating Input Conditions
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Input Hysteresis Allows Slow Input Transition and Better Switching Noise Immunity at Input
  • Wide Operating VCC Range of 0.8 V to 3.6 V
  • Optimized for 3.3-V Operation
  • 3.6-V I/O Tolerant to Support Mixed-Mode Signal Operation
  • tpd = 4.6 ns Maximum at 3.3 V
  • Suitable for Point-to-Point Applications

The AUP family is TI’s premier solution to the industry’s low-power needs in battery-powered portable applications. This family assures a very low static and dynamic power consumption across the entire VCC range of 0.8 V to 3.6 V, resulting in an increased battery life. This product also maintains excellent signal integrity (see AUP – The Lowest-Power Family and Excellent Signal Integrity ).

This bus buffer gate is a single line driver with a 3-state output. The output is disabled when the output-enable (OE) input is low. This device has the input-disable feature, which allows floating input signals.

To assure the high-impedance state during power up or power down, OE should be tied to GND through a pulldown resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sourcing capability of the driver.

NanoStar™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs when the device is powered down. This inhibits current backflow into the device which prevents damage to the device.

The AUP family is TI’s premier solution to the industry’s low-power needs in battery-powered portable applications. This family assures a very low static and dynamic power consumption across the entire VCC range of 0.8 V to 3.6 V, resulting in an increased battery life. This product also maintains excellent signal integrity (see AUP – The Lowest-Power Family and Excellent Signal Integrity ).

This bus buffer gate is a single line driver with a 3-state output. The output is disabled when the output-enable (OE) input is low. This device has the input-disable feature, which allows floating input signals.

To assure the high-impedance state during power up or power down, OE should be tied to GND through a pulldown resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sourcing capability of the driver.

NanoStar™ package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs when the device is powered down. This inhibits current backflow into the device which prevents damage to the device.
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DSBGA (YZP) 5 Ultra Librarian
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
USON (DRY) 6 Ultra Librarian
X2SON (DPW) 5 Ultra Librarian
DSBGA (YFP) 6 Ultra Librarian
SOT-5X3 (DRL) 5 Ultra Librarian
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