データシート
TPS7H2140-SEP
- VID (Vendor Item Drawing) VID V62/23610 が利用可能
- 累積線量 (TID) 特性評価：30krad(Si)
- 放射線ロット受け入れ試験 (RLAT) 特性評価：20krad(Si)
- シングルイベント効果 (SEE) の特性評価
- シングルイベント・ラッチアップ (SEL)、シングルイベント・バーンアウト (SEB)、シングルイベント・ゲート・ラプチャー (SEGR) における、43MeV-cm 2/mg の線エネルギー付与 (LET) に対する耐性
- シングルイベント過渡 (SET) およびシングルイベント機能割り込み (SEF) 特性評価： 43MeV-cm 2/mg の実効線エネルギー付与 (LET)
- 包括的な診断機能と電流センス・アナログ出力を搭載した、クワッド・チャネル 160mΩ eFuse
- 広い動作電圧範囲：4.5V～32V
- 非常に低いスタンバイ時電流：500nA 未満
- 高精度の電流センス： I LOAD ≥ 25mA のとき ±15%
- 電流制限は外付け抵抗 (R CL) により調整可能で、I LOAD ≥ 500mA のとき ±15% の精度を実現
- 保護
- 電流制限 (内部または外部) による GND への短絡保護
- ラッチオフ・オプションおよびサーマル・スイング付きのサーマル・シャットダウン機能
- スルーレートが最適化された、誘導性負荷の負電圧クランプ
- GND 損失および電力損失保護
- 診断
- 過電流およびグランドへの短絡の検出
- 開放負荷と電源への短絡の検出
- グローバル・フォルト・レポートによる高速割り込み
- 熱特性強化型 28 ピン PWP パッケージ
- 宇宙向け強化プラスチック (SEP)
- 軍事用温度範囲 (-55℃～125℃) に対応
TPS7H2140-SEP デバイスは、完全に保護されたクワッド・チャネル eFuse で、160mΩ の NMOS パワー FET が 4 つ内蔵されています。
包括的な診断機能と高精度の電流検出によって、インテリジェントな負荷制御が可能です。
電流制限を外部で変更可能なため、突入電流や過負荷電流を制限し、システム全体の信頼性を向上できます。
技術資料
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設計と開発
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評価ボード
TPS7H2140EVM — TPS7H2140-SEP 耐放射線特性、プラスチック、クワッドチャネル eFuse の評価基板
TPS7H2140-SEP 評価基板は、クワッドチャネル eFuse の動作を提示します。このボードは複数のパラレル出力チャネルをテストする構成になっています。複数の出力チャネルを分割するようにカスタマイズすることや、デバイスの他の機能をカスタマイズすることができます。
在庫あり
制限：
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入手不可
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| HTSSOP (PWP) | 28 | Ultra Librarian |
購入と品質
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。