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LM2903B-Q1

활성

오토모티브, 듀얼 차동 제품 콤퍼레이터

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LM2903B-Q1

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제품 상세 정보

Number of channels 2 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 1 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 2 Rating Automotive Iq per channel (typ) (mA) 0.2 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 2.5 Rail-to-rail In to V- Operating temperature range (°C) -40 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 25 VICR (max) (V) 0 VICR (min) (V) 34.5 TI functional safety category Functional Safety-Capable
Number of channels 2 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 1 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 2 Rating Automotive Iq per channel (typ) (mA) 0.2 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 2.5 Rail-to-rail In to V- Operating temperature range (°C) -40 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 25 VICR (max) (V) 0 VICR (min) (V) 34.5 TI functional safety category Functional Safety-Capable
SOIC (D) 8 29.4 mm² 4.9 x 6 SOT-23-THN (DDF) 8 8.12 mm² 2.9 x 2.8 TSSOP (PW) 8 19.2 mm² 3 x 6.4 VSSOP (DGK) 8 14.7 mm² 3 x 4.9 WSON (DSG) 8 4 mm² 2 x 2
  • Qualified for automotive applications
  • AEC-Q100 qualified with the following results:
    • Device temperature grade 0: –40°C to 150°C ambient operating temperature range (LM2903E-Q1)
    • Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
    • Device HBM ESD classification level H1C
    • Device CDM ESD classification level C4B
  • Improved 2kV HBM ESD for "B" device
  • Tri-Temp testing available for "B" device
  • Single supply or dual supplies
  • Low supply-current independent of supply voltage 200uA typical per comparator ("B" Versions)
  • Low input bias current 3.5nA typical ("B" device)
  • Low input offset current 0.5nA typical ("B" device)
  • Low input offset voltage ±0.37mV typical ("B" device)
  • Common-mode input voltage range includes ground
  • Differential input voltage range equal to maximum-rated supply voltage ±36 V
  • Output compatible with TTL, MOS, and CMOS
  • Functional Safety-Capable
  • Qualified for automotive applications
  • AEC-Q100 qualified with the following results:
    • Device temperature grade 0: –40°C to 150°C ambient operating temperature range (LM2903E-Q1)
    • Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
    • Device HBM ESD classification level H1C
    • Device CDM ESD classification level C4B
  • Improved 2kV HBM ESD for "B" device
  • Tri-Temp testing available for "B" device
  • Single supply or dual supplies
  • Low supply-current independent of supply voltage 200uA typical per comparator ("B" Versions)
  • Low input bias current 3.5nA typical ("B" device)
  • Low input offset current 0.5nA typical ("B" device)
  • Low input offset voltage ±0.37mV typical ("B" device)
  • Common-mode input voltage range includes ground
  • Differential input voltage range equal to maximum-rated supply voltage ±36 V
  • Output compatible with TTL, MOS, and CMOS
  • Functional Safety-Capable

The LM2903B-Q1 device is the next generation version of the industry-standard LM2903-Q1 comparator family. This next generation family provides outstanding value for cost-sensitive applications, with features including lower offset voltage, higher supply voltage capability, lower supply current, lower input bias current, lower propagation delay, and improved 2kV ESD performance with drop-in replacement convenience.

All devices consist of two independent voltage comparators that are designed to operate over a wide range of voltages. Operation from dual supplies also is possible as long as the difference between the two supplies is within 2V to 36V, and VCC is at least 1.5V more positive than the input common-mode voltage. The outputs can be connected to other open-collector outputs.

The LM2903-Q1 and LM2903B-Q1 are qualified for the AEC-Q100 Grade 1 temperature range of -40°C to +125°C. The LM2903E-Q1 is Qualified for the Grade 0 extended temperature range of -40°C to +150°C.

The LM2903B-Q1 device is the next generation version of the industry-standard LM2903-Q1 comparator family. This next generation family provides outstanding value for cost-sensitive applications, with features including lower offset voltage, higher supply voltage capability, lower supply current, lower input bias current, lower propagation delay, and improved 2kV ESD performance with drop-in replacement convenience.

All devices consist of two independent voltage comparators that are designed to operate over a wide range of voltages. Operation from dual supplies also is possible as long as the difference between the two supplies is within 2V to 36V, and VCC is at least 1.5V more positive than the input common-mode voltage. The outputs can be connected to other open-collector outputs.

The LM2903-Q1 and LM2903B-Q1 are qualified for the AEC-Q100 Grade 1 temperature range of -40°C to +125°C. The LM2903E-Q1 is Qualified for the Grade 0 extended temperature range of -40°C to +150°C.
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기술 자료

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유형 직함 날짜
* Data sheet LM2903-Q1 and LM2903B-Q1 Automotive Dual Comparators datasheet (Rev. M) PDF | HTML 2024/12/13
Application note Application Design Guidelines for LM339, LM393, TL331 Family Comparators Including the New B-versions (Rev. F) PDF | HTML 2024/12/12
Functional safety information LM2903B-Q1 Functional Safety, FIT Rate, Failure Mode Distribution and Pin FMA (Rev. A) PDF | HTML 2022/01/11

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

AMP-PDK-EVM — 증폭기 성능 개발 키트 평가 모듈

증폭기 성능 개발 키트(PDK)는 일반적인 연산 증폭기(OP 앰프) 매개 변수를 테스트할 수 있는 평가 모듈(EVM) 키트입니다. 대부분의 연산 증폭기 및 콤퍼레이터와 호환됩니다. EVM 키트는 패키지 요구 사항에 맞는 여러 소켓형 부속 카드 옵션이 있는 메인 보드를 제공하여 엔지니어가 디바이스 성능을 신속하게 평가하고 확인할 수 있습니다.

AMP-PDK-EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 5개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.

  • D(SOIC-8 및 SOIC-14)
  • PW(TSSOP-14)
  • DGK(VSSOP-8)
  • (...)
사용 설명서: PDF | HTML
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평가 보드

DIP-ADAPTER-EVM — DIP 어댑터 평가 모듈

소형 표면 실장 IC(집적 회로)와 쉽고 빠르며 경제적인 방식으로 인터페이싱하는 방법을 제공하는 DIP 어댑터 평가 모듈(DIP-ADAPTER-EVM)로 연산 증폭기 프로토타이핑 및 테스트 속도를 높이세요. 제품에 포함된 Samtec 터미널 스트립을 사용하여 지원되는 연산 증폭기를 연결하거나 기존 회로에 직접 연결할 수 있습니다.

DIP 어댑터 EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 6개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.

  • D 및 U(SOIC-8)
  • PW(TSSOP-8)
  • DGK(MSOP-8, VSSOP-8)
  • (...)
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TI.com에서 구매 불가
평가 보드

DUAL-DIYAMP-EVM — 듀얼 채널 범용 DIY(Do-it-Yourself) 증폭기 회로 평가 모듈

DUAL-DIYAMP-EVM은 엔지니어와 DIY 사용자에게 실제 증폭기 회로를 제공하여 설계 개념을 신속하게 평가하고 시뮬레이션을 검증할 수 있게 해주는 평가 모듈(EVM) 제품군입니다. 이는 업계 표준 SOIC-8 패키지의 듀얼 패키지 연산 증폭기를 위해 특별히 설계되었습니다. 반전 및 비반전 증폭기, Sallen-Key 필터, 다중 피드백 필터, 레퍼런스 버퍼를 사용하는 차동 증폭기, 듀얼 피드백 기반의 Riso, 단일 종단 입력 대비 차동 출력, 차동 입력 대비 차동 출력, 2연산 증폭기 구성의 계측 증폭기, 병렬 연산 (...)

사용 설명서: PDF
TI.com에서 구매 불가
평가 보드

SMALL-AMP-DIP-EVM — 소형 패키지를 갖춘 연산 증폭기용 평가 모듈

SMALL-AMP-DIP-EVM은 여러 업계 표준 소형 패키지와 빠르고 쉬운 인터페이스를 통해 소형 패키지 연산 증폭기 프로토타입 제작 속도를 높여줍니다. SMALL-AMP-DIP-EVM은 DPW-5(X2SON), DSG-8(WSON), DCN-8(SOT), DDF-8(SOT), RUG-10(X2QFN), RUC-14(X2QFN), RGY-14(VQFN) 및 RTE-16(WQFN)을 포함한 8가지 소형 패키지 옵션을 지원합니다.

사용 설명서: PDF
TI.com에서 구매 불가
시뮬레이션 모델

LM2903B PSpice Model (Rev. E)

SLCJ011E.ZIP (46 KB) - PSpice Model
다운로드
시뮬레이션 모델

LM2903B TINA-TI Spice Model (Rev. B)

SLCM014B.ZIP (10 KB) - TINA-TI Spice Model
다운로드
시뮬레이션 툴

PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®

TI용 PSpice®는 아날로그 회로의 기능을 평가하는 데 사용되는 설계 및 시뮬레이션 환경입니다. 완전한 기능을 갖춘 이 설계 및 시뮬레이션 제품군은 Cadence®의 아날로그 분석 엔진을 사용합니다. 무료로 제공되는 TI용 PSpice에는 아날로그 및 전력 포트폴리오뿐 아니라 아날로그 행동 모델에 이르기까지 업계에서 가장 방대한 모델 라이브러리 중 하나가 포함되어 있습니다.

TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 착수하기 (...)
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시뮬레이션 툴

TINA-TI — SPICE 기반 아날로그 시뮬레이션 프로그램

TINA-TI provides all the conventional DC, transient and frequency domain analysis of SPICE and much more. TINA has extensive post-processing capability that allows you to format results the way you want them. Virtual instruments allow you to select input waveforms and probe circuit nodes voltages (...)
사용 설명서: PDF
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레퍼런스 디자인

TIDA-010249 — 4채널 동기식 진동 센서 인터페이스 레퍼런스 설계

이 레퍼런스 설계는 동기식, 4채널 광대역 고해상도 인터페이스의 이론, 설계 및 테스트를 설명합니다. 주요 목표는 진동 감지 응용 제품이지만 이 설계는 역률 측정의 3상 전압 및 전류 모니터링과 같이 광대역이 필요한 모든 응용 분야에도 적용할 수 있습니다.
Design guide: PDF
패키지 핀 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
SOIC (D) 8 Ultra Librarian
SOT-23-THN (DDF) 8 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 8 Ultra Librarian
VSSOP (DGK) 8 Ultra Librarian
WSON (DSG) 8 Ultra Librarian
TI의 평가 항목에 대한 표준 약관이 적용됩니다.

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

포럼 주제 모두 보기(영문)

콘텐츠는 TI 및 커뮤니티 기고자에 의해 "있는 그대로" 제공되며 TI의 사양으로 간주되지 않습니다. 사용 약관을 참조하십시오.

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