제품 상세 정보

Number of channels 2 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 1 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 2 Rating Automotive Iq per channel (typ) (mA) 0.2 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 2.5 Rail-to-rail In to V- Operating temperature range (°C) -40 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 25 VICR (max) (V) 0 VICR (min) (V) 34.5 TI functional safety category Functional Safety-Capable
Number of channels 2 Output type Open-collector, Open-drain Propagation delay time (µs) 1 Vs (max) (V) 36 Vs (min) (V) 2 Rating Automotive Iq per channel (typ) (mA) 0.2 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 2.5 Rail-to-rail In to V- Operating temperature range (°C) -40 to 125 Input bias current (±) (max) (nA) 25 VICR (max) (V) 0 VICR (min) (V) 34.5 TI functional safety category Functional Safety-Capable
VSSOP (DGK) 8 14.7 mm² (3 mm × 4.9 mm) SOIC (D) 8 29.4 mm² (4.9 mm × 6 mm) TSSOP (PW) 8 19.2 mm² (3 mm × 6.4 mm) WSON (DSG) 8 4 mm² (2 mm × 2 mm) SOT-23-THN (DDF) 8 8.12 mm² (2.9 mm × 2.8 mm)
  • Qualified for automotive applications
  • AEC-Q100 qualified with the following results:
    • Device temperature grade 0: –40°C to 150°C ambient operating temperature range (LM2903E-Q1)
    • Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
    • Device HBM ESD classification level H1C
    • Device CDM ESD classification level C4B
  • Improved 2kV HBM ESD for "B" device
  • Tri-Temp testing available for "B" device
  • Single supply or dual supplies
  • Low supply-current independent of supply voltage 200uA typical per comparator ("B" Versions)
  • Low input bias current 3.5nA typical ("B" device)
  • Low input offset current 0.5nA typical ("B" device)
  • Low input offset voltage ±0.37mV typical ("B" device)
  • Common-mode input voltage range includes ground
  • Differential input voltage range equal to maximum-rated supply voltage ±36 V
  • Output compatible with TTL, MOS, and CMOS
  • Functional Safety-Capable
  • Qualified for automotive applications
  • AEC-Q100 qualified with the following results:
    • Device temperature grade 0: –40°C to 150°C ambient operating temperature range (LM2903E-Q1)
    • Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
    • Device HBM ESD classification level H1C
    • Device CDM ESD classification level C4B
  • Improved 2kV HBM ESD for "B" device
  • Tri-Temp testing available for "B" device
  • Single supply or dual supplies
  • Low supply-current independent of supply voltage 200uA typical per comparator ("B" Versions)
  • Low input bias current 3.5nA typical ("B" device)
  • Low input offset current 0.5nA typical ("B" device)
  • Low input offset voltage ±0.37mV typical ("B" device)
  • Common-mode input voltage range includes ground
  • Differential input voltage range equal to maximum-rated supply voltage ±36 V
  • Output compatible with TTL, MOS, and CMOS
  • Functional Safety-Capable

The LM2903B-Q1 device is the next generation version of the industry-standard LM2903-Q1 comparator family. This next generation family provides outstanding value for cost-sensitive applications, with features including lower offset voltage, higher supply voltage capability, lower supply current, lower input bias current, lower propagation delay, and improved 2kV ESD performance with drop-in replacement convenience.

All devices consist of two independent voltage comparators that are designed to operate over a wide range of voltages. Operation from dual supplies also is possible as long as the difference between the two supplies is within 2V to 36V, and VCC is at least 1.5V more positive than the input common-mode voltage. The outputs can be connected to other open-collector outputs.

The LM2903-Q1 and LM2903B-Q1 are qualified for the AEC-Q100 Grade 1 temperature range of -40°C to +125°C. The LM2903E-Q1 is Qualified for the Grade 0 extended temperature range of -40°C to +150°C.

The LM2903B-Q1 device is the next generation version of the industry-standard LM2903-Q1 comparator family. This next generation family provides outstanding value for cost-sensitive applications, with features including lower offset voltage, higher supply voltage capability, lower supply current, lower input bias current, lower propagation delay, and improved 2kV ESD performance with drop-in replacement convenience.

All devices consist of two independent voltage comparators that are designed to operate over a wide range of voltages. Operation from dual supplies also is possible as long as the difference between the two supplies is within 2V to 36V, and VCC is at least 1.5V more positive than the input common-mode voltage. The outputs can be connected to other open-collector outputs.

The LM2903-Q1 and LM2903B-Q1 are qualified for the AEC-Q100 Grade 1 temperature range of -40°C to +125°C. The LM2903E-Q1 is Qualified for the Grade 0 extended temperature range of -40°C to +150°C.

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기술 자료

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* 데이터 시트 LM2903-Q1 and LM2903B-Q1 Automotive Dual Comparators datasheet (Rev. M) PDF | HTML 2024. 12. 13
애플리케이션 노트 Application Design Guidelines for LM339, LM393, TL331 Family Comparators Including the New B-versions (Rev. F) PDF | HTML 2024. 12. 12
기능 안전 정보 LM2903B-Q1 Functional Safety, FIT Rate, Failure Mode Distribution and Pin FMA (Rev. A) PDF | HTML 2022. 1. 11

설계 및 개발

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증폭기 성능 개발 키트(PDK)는 일반적인 연산 증폭기(OP 앰프) 매개 변수를 테스트할 수 있는 평가 모듈(EVM) 키트입니다. 대부분의 연산 증폭기 및 콤퍼레이터와 호환됩니다. EVM 키트는 패키지 요구 사항에 맞는 여러 소켓형 부속 카드 옵션이 있는 메인 보드를 제공하여 엔지니어가 디바이스 성능을 신속하게 평가하고 확인할 수 있습니다.

AMP-PDK-EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 5개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.

  • D(SOIC-8 및 SOIC-14)
  • PW(TSSOP-14)
  • DGK(VSSOP-8)
  • (...)
사용 설명서: PDF | HTML
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소형 표면 실장 IC(집적 회로)와 쉽고 빠르며 경제적인 방식으로 인터페이싱하는 방법을 제공하는 DIP 어댑터 평가 모듈(DIP-ADAPTER-EVM)로 연산 증폭기 프로토타이핑 및 테스트 속도를 높이세요. 제품에 포함된 Samtec 터미널 스트립을 사용하여 지원되는 연산 증폭기를 연결하거나 기존 회로에 직접 연결할 수 있습니다.

DIP 어댑터 EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 6개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.

  • D 및 U(SOIC-8)
  • PW(TSSOP-8)
  • DGK(MSOP-8, VSSOP-8)
  • (...)
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패키지 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
VSSOP (DGK) 8 Ultra Librarian
SOIC (D) 8 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 8 Ultra Librarian
WSON (DSG) 8 Ultra Librarian
SOT-23-THN (DDF) 8 Ultra Librarian

주문 및 품질

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