계산 툴
LMG1025-Q1
- AEC-Q100 grade 1 qualified
- 1.25-ns typical minimum input pulse width
- 2.6-ns typical rising propagation delay
- 2.9-ns typical falling propagation delay
- 300-ps typical pulse distortion
- Independent 7-A pull-up and 5-A pull-down current
- 650-ps typical rise time (220-pF load)
- 850-ps typical fall time (220-pF load)
- 2-mm x 2-mm QFN package
- Inverting and non-inverting inputs
- UVLO and over-temperature protection
- Single 5-V supply voltage
The LMG1025-Q1 is a single channel low-side enhancement-mode GaN FET and logic-level MOSFET driver for high switching frequency automotive applications. Narrow pulse width capability, fast switching specification, and small pulse distortion combine to significantly enhance LiDAR, ToF, and Power Converter performance. 1.25-ns output pulse width enables more powerful, eye-safe diode pulses. This, combined with 300-ns distortion, leads to longer-range, precise LiDAR/ToF systems. 2.9-ns propagation delay significantly improves the control loop response time and thus overall performance of the power converters. Split output allows the drive strength and timing to be independently adjusted through external resistors between OUTH, OUTL, and the FET gate.
The driver features undervoltage lockout (UVLO) and over-temperature protection (OTP) to ensure the device is not damaged in overload or fault conditions. LMG1025-Q1 is available in a compact, leadless, AEC-Q100 automotive qualified package to meet the size and gate loop inductance requirements of high switching frequency automotive applications.
기술 자료
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10개 모두 보기 | 유형 | 직함 | 날짜 | ||
|---|---|---|---|---|
| * | Data sheet | LMG1025-Q1 Automotive Low Side GaN and MOSFET Driver For High Frequency and Narrow Pulse Applications datasheet (Rev. B) | PDF | HTML | 2020/01/16 |
| Application brief | GaN Applications | PDF | HTML | 2022/08/10 | |
| Application brief | Key Parameters and Driving Requirements of GaN FETs | PDF | HTML | 2022/08/04 | |
| Application brief | Nomenclature, Types, and Structure of GaN Transistors | PDF | HTML | 2022/08/04 | |
| Application brief | How GaN Enables More Efficient and Reduced Form Factor Power Supplies | PDF | HTML | 2022/08/02 | |
| Functional safety information | LMG1025-Q1 FIT, FMD, and Pin FMA | PDF | HTML | 2022/06/24 | |
| Certificate | LMG1025-Q1EVM EU Declaration of Conformity (DoC) (Rev. A) | 2020/09/16 | ||
| EVM User's guide | LMG1025-Q1 EVM User's Guide (Rev. B) | 2020/05/08 | ||
| Application brief | External Gate Resistor Selection Guide (Rev. A) | 2020/02/28 | ||
| Application brief | Understanding Peak IOH and IOL Currents (Rev. A) | 2020/02/28 |
설계 및 개발
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평가 보드
LMG1020EVM-006 — LMG1020 GaN 저압측 드라이버 + GaN FET LiDAR 평가 모듈
The LMG1020EVM-006 is a small, easy-to-use power stage for LIDAR laser drive. The EVM includes an integrated resistive load, (laser not included) and takes a short-pulse input that can either be buffered (and shortened further), or passed directly to the power stage. The board can demonstrate (...)
사용 설명서: PDF
평가 보드
LMG1025-Q1EVM — LMG1025-Q1 GaN 저압측 드라이버 + GaN FET LiDAR 평가 모듈
The LMG1025-Q1EVM is a small, easy-to-use power stage with integrated resistive load (laser not included). It takes a short-pulse input that can either be buffered (and shortened further), or passed directly to the power stage.
사용 설명서: PDF
시뮬레이션 툴
PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®
TI용 PSpice®는 아날로그 회로의 기능을 평가하는 데 사용되는 설계 및 시뮬레이션 환경입니다. 완전한 기능을 갖춘 이 설계 및 시뮬레이션 제품군은 Cadence®의 아날로그 분석 엔진을 사용합니다. 무료로 제공되는 TI용 PSpice에는 아날로그 및 전력 포트폴리오뿐 아니라 아날로그 행동 모델에 이르기까지 업계에서 가장 방대한 모델 라이브러리 중 하나가 포함되어 있습니다.
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레퍼런스 디자인
TIDA-01573 — LiDAR를 위한 나노초 레이저 드라이버 레퍼런스 설계
This light distancing and ranging (LiDAR) reference design showcases the LMG1020 and LMG1025-Q1 low side gate drivers for narrow pulse applications. These devices are capable of driving a FET to produce <1.5-ns laser optical pulses in excess of 100W.
| 패키지 | 핀 | CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델 |
|---|---|---|
| WSON (DEE) | 6 | Ultra Librarian |
주문 및 품질
포함된 정보:
- RoHS
- REACH
- 디바이스 마킹
- 납 마감/볼 재질
- MSL 등급/피크 리플로우
- MTBF/FIT 예측
- 물질 성분
- 인증 요약
- 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
- 팹 위치
- 조립 위치
권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.