JAJA847 April   2025 MSPM0C1103 , MSPM0C1103-Q1 , MSPM0C1104 , MSPM0C1104-Q1 , MSPM0C1105 , MSPM0C1106 , MSPM0C1106-Q1 , MSPM0G1107 , MSPM0G1505 , MSPM0G1506 , MSPM0G1507 , MSPM0G1518 , MSPM0G1519 , MSPM0G3105 , MSPM0G3105-Q1 , MSPM0G3106 , MSPM0G3106-Q1 , MSPM0G3107 , MSPM0G3107-Q1 , MSPM0G3505 , MSPM0G3505-Q1 , MSPM0G3506 , MSPM0G3506-Q1 , MSPM0G3507 , MSPM0G3507-Q1 , MSPM0G3518 , MSPM0G3518-Q1 , MSPM0G3519 , MSPM0G3519-Q1 , MSPM0H3216 , MSPM0H3216-Q1 , MSPM0L1105 , MSPM0L1106 , MSPM0L1116 , MSPM0L1117 , MSPM0L1227 , MSPM0L1227-Q1 , MSPM0L1228 , MSPM0L1228-Q1 , MSPM0L1303 , MSPM0L1304 , MSPM0L1304-Q1 , MSPM0L1305 , MSPM0L1305-Q1 , MSPM0L1306 , MSPM0L1306-Q1 , MSPM0L1343 , MSPM0L1344 , MSPM0L1345 , MSPM0L1346 , MSPM0L2227 , MSPM0L2227-Q1 , MSPM0L2228 , MSPM0L2228-Q1

 

  1.   1
  2.   概要
  3.   商標
  4. 1はじめに
  5. 2EMC 規格と EMC 規格
    1. 2.1 EMC
      1. 2.1.1 EMS
      2. 2.1.2 EMI
    2. 2.2 EMC 規格
      1. 2.2.1 EMC 規格のカテゴリ
    3. 2.3 TI の EMC と IC の電気的信頼性
  6. 3EMC 改善ガイドラインの概要
    1. 3.1 PCB 設計ガイドライン
    2. 3.2 ファームウェアのガイドライン
  7. 4MSPM0 の EMC 改善機能
    1. 4.1 感受性保護機能
      1. 4.1.1 POR および BOR
      2. 4.1.2 NMI およびハード故障
      3. 4.1.3 I/O ESD と設定
    2. 4.2 放射削減機能
      1. 4.2.1 クロック ソース
      2. 4.2.2 電力モード
      3. 4.2.3 パッケージ
  8. 5EMS テストの分析
    1. 5.1 根本原因の分析
      1. 5.1.1 恒久的な損傷
      2. 5.1.2 回復可能な不具合
    2. 5.2 デバッグ フロー
  9. 6EMI テストの分析
    1. 6.1 根本原因の分析
      1. 6.1.1 電源ライン
      2. 6.1.2 外部 Vcore
    2. 6.2 デバッグ フロー
  10. 7まとめ
  11. 8参考資料

2.2 EMC 規格

さまざまなアプリケーション シナリオの EMC 準拠要件に基づき、国際、地域、または業界の団体によって多数の EMC 規格が確立され、電磁放射と耐性に関する許容可能な制限とテストの手法が定義されています。最も一般的なコミュニティは、国際標準化機構 (ISO)、国際電気標準会議 (IEC)、国際無線干渉特別委員会 (CISPR) です。規格の策定者は多数存在しますが、規格の適用範囲は、図 2-1に示す EMC の主要な標準の 3 つのカテゴリに分類できます

EMC 規格図 2-1 EMC 規格

最初の EMC 規格カテゴリは、一般的な製品または PCB システムに適した EMC テスト規格を記述したもので、最小 EMC パフォーマンス メトリックを設定するユニバーサル システム EMC 規格です。一例として、IEC が発行する IEC 61000 シリーズが挙げられます。IEC 61000 は最も一般的な EMC 規格であるため、セクション 2.2.1 ではより広範囲にわたる規格についてより詳細に紹介しています。

二つ目のカテゴリは、特化したシステムの EMC 規格です。一般的な要件を補完するために、特定用途向けの一部の EMC 規格 (例：自動車、医療、航空宇宙) も、特に EMI の固有の EMC 課題に対応するために開発されました。

三番目のカテゴリは、IC の EMC 規格です。IEC フレームワーク内には、以下の 3 つの主要な規格があります。IEC 61967、IEC 62132、および IEC 62215。これらのテストでは、標準化されたセットアップ (事前定義されたコードを持つ 100mm×100mm の多層 PCB など) を使用して、制御されたテスト環境での IC の動作を評価します。ただし、システム変数への依存性により、セットアップ パラメータ (PCB 層数、デカップリング コンデンサの配置、信号ルーティングなど) の違いによって IC の固有特性が人為的に増幅または隠蔽される可能性があるため、IC 間の比較は統計的に決定的なものではなくなります。その結果、このテストデータを提供している半導体企業はわずかです。