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Biestables tipo D

SN74AHCT74

ACTIVO

Biestables tipo D con activación de borde positivo doble con Clear y Preset

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SN74AHCT74

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Detalles del producto

Number of channels 2 Technology family AHCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 70 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Supply current (max) (µA) 20 Features Balanced outputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
Number of channels 2 Technology family AHCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 70 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Supply current (max) (µA) 20 Features Balanced outputs, Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -40 to 125 Rating Catalog
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6 SOP (NS) 14 79.56 mm² 10.2 x 7.8 SSOP (DB) 14 48.36 mm² 6.2 x 7.8 TSSOP (PW) 14 32 mm² 5 x 6.4 TVSOP (DGV) 14 23.04 mm² 3.6 x 6.4 VQFN (RGY) 14 12.25 mm² 3.5 x 3.5 WQFN (BQA) 14 7.5 mm² 3 x 2.5
  • Operating range of 4.5 V to 5.5 V
  • Low power consumption, 10-µA maximum I CC
  • ±8-mA output drive at 5 V
  • Inputs are TTL-voltage compatible
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17
  • Operating range of 4.5 V to 5.5 V
  • Low power consumption, 10-µA maximum I CC
  • ±8-mA output drive at 5 V
  • Inputs are TTL-voltage compatible
  • Latch-up performance exceeds 250 mA per JESD 17

The ’AHCT74 dual positive-edge-triggered devices are D-type flip-flops.

A low level at the preset ( PRE) or clear ( CLR) inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE and CLR are inactive (high), data at the data (D) input meeting the setup time requirements is transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the D input can be changed without affecting the levels at the outputs.

The ’AHCT74 dual positive-edge-triggered devices are D-type flip-flops.

A low level at the preset ( PRE) or clear ( CLR) inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE and CLR are inactive (high), data at the data (D) input meeting the setup time requirements is transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the D input can be changed without affecting the levels at the outputs.
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Documentación técnica

star =Principal documentación para este producto seleccionada por TI
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Documentación principal Tipo Título Opciones de formato Fecha
* Data sheet SNxAHCT74 Dual Positive-Edge-Triggered D-Type Flip-Flops With Clear And Preset datasheet (Rev. R) PDF | HTML 17 oct 2023
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Application note TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 29 ago 2002
Design guide AHC/AHCT Designer's Guide February 2000 (Rev. D) 24 feb 2000
Product overview Military Advanced High-Speed CMOS Logic (AHC/AHCT) (Rev. C) 01 abr 1998
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Diseño y desarrollo

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Placa de evaluación

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Modelo de simulación

SN74AHCT74 IBIS Model

SCLM075.ZIP (22 KB) - IBIS Model
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Encapsulado Pines Símbolos CAD, huellas y modelos 3D
PDIP (N) 14 Ultra Librarian
SOIC (D) 14 Ultra Librarian
SOP (NS) 14 Ultra Librarian
SSOP (DB) 14 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 14 Ultra Librarian
TVSOP (DGV) 14 Ultra Librarian
VQFN (RGY) 14 Ultra Librarian
WQFN (BQA) 14 Ultra Librarian
Se aplican los Términos y condiciones estándar de TI para los elementos de evaluación.

Pedidos y calidad

Información incluida:
  • RoHS
  • REACH
  • Marcado del dispositivo
  • Acabado de plomo/material de la bola
  • Clasificación de nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)/reflujo máximo
  • Estimaciones de tiempo medio entre fallas (MTBF)/fallas en el tiempo (FIT)
  • Contenido del material
  • Resumen de calificaciones
  • Monitoreo continuo de confiabilidad
Información incluida:
  • Lugar de fabricación
  • Lugar de ensamblaje

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