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SN54AC00-SP

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Radiation-hardened, QML-V, 4-channel 2-input, 2V to 6V NAND gates

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製品詳細

Technology family AC Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family AC Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125
CFP (W) 14 58.023 mm² (— mm × — mm) CDIP (J) 14 130.4652 mm² (— mm × — mm) DIESALE (KGD) — See data sheet
  • 5962R87549：
    • 放射線耐性保証 (RHA)：TID 最大 100krad (Si)
    • SEL 耐性：86MeV×cm2/mg
  • 5962-87549：
    • 総照射線量耐性：50krad (Si)
  • 2V～6V の VCC で動作
  • 6V までの入力電圧に対応
  • 最大 tpd 7ns (5V 時)
  • 5962R87549：
    • 放射線耐性保証 (RHA)：TID 最大 100krad (Si)
    • SEL 耐性：86MeV×cm2/mg
  • 5962-87549：
    • 総照射線量耐性：50krad (Si)
  • 2V～6V の VCC で動作
  • 6V までの入力電圧に対応
  • 最大 tpd 7ns (5V 時)

SN54AC00 デバイスには、4 つの独立した 2 入力 NAND ゲートが内蔵されています。各ゲートは、ブール関数 Y = A • B または Y = A + B を正論理で実行します。

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SN54AC00 デバイスには、4 つの独立した 2 入力 NAND ゲートが内蔵されています。各ゲートは、ブール関数 Y = A • B または Y = A + B を正論理で実行します。

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* データシート SN54AC00-SP 耐放射線特性クワッド 2 入力 NAND ゲート データシート (Rev. C 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.C) PDF | HTML 2022/05/24
* 放射線と信頼性レポート 54AC00-SP Radiation Assured Devices 2016/04/21
* SMD SN54AC00-SP SMD 5962-87549 2016/07/08

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