ホーム ロジックと電圧変換 論理ゲート OR ゲート
ホーム
ロジックと電圧変換
論理ゲート
OR ゲート

SN74AC32-EP

アクティブ

エンハンスド製品、4 チャネル、2 入力、2V ～ 6V、24mA のドライブ能力、OR ゲート

ご注文はこちら
データシート

SN74AC32-EP

アクティブ
データシート ご注文はこちら

製品詳細

Technology family AC Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family AC Number of channels 4 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 24 IOH (max) (mA) -24 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
SOIC (D) 14 51.9 mm² (8.65 mm × 6 mm)
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • 2-V to 6-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 6 V
  • Max tpd of 7.5 ns at 5 V

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of –55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • 2-V to 6-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 6 V
  • Max tpd of 7.5 ns at 5 V

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

The SN74AC32 is a quadruple 2-input positive-OR gate. The device performs the Boolean function Y = A + B or Y = A\ • B\ in positive logic.

The SN74AC32 is a quadruple 2-input positive-OR gate. The device performs the Boolean function Y = A + B or Y = A\ • B\ in positive logic.
filter その他の OR ゲート を検索
ダウンロード

技術資料

結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
2 をすべて表示
上位の文書 タイプ タイトル フォーマットオプション 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74AC32-EP データシート 2003/09/30
* VID SN74AC32-EP VID V6204616 2016/06/21

購入と品質

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

投稿されたすべてのフォーラムトピック (英語) を表示

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​