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SN74LVC1G32-EP

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エンハンスド製品、1 チャネル、2 入力、1.65V ～ 5.5V、32mA のドライブ能力、OR ゲート

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SN74LVC1G32-EP

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製品詳細

Technology family LVC Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family LVC Number of channels 1 Inputs per channel 2 IOL (max) (mA) 32 IOH (max) (mA) -32 Input type Standard CMOS Output type Push-Pull Features Over-voltage tolerant inputs, Partial power down (Ioff), Ultra high speed (tpd <5ns) Data rate (max) (Mbps) 100 Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -55 to 125
SOT-SC70 (DCK) 5 4.2 mm² (2 mm × 2.1 mm) SOT-23 (DBV) 5 8.12 mm² (2.9 mm × 2.8 mm)
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Supports 5-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 5.5 V
  • Max tpd of 3.6 ns at 3.3 V
  • Low Power Consumption, 10 µA Max ICC
  • ±24-mA Output Drive at 3.3 V
  • Ioff Supports Partial Power Down Mode Operation
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Supports 5-V VCC Operation
  • Inputs Accept Voltages to 5.5 V
  • Max tpd of 3.6 ns at 3.3 V
  • Low Power Consumption, 10 µA Max ICC
  • ±24-mA Output Drive at 3.3 V
  • Ioff Supports Partial Power Down Mode Operation
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

This single 2-input positive-OR gate is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.

The SN74LVC1G32 performs the Boolean function Y = A + B or Y = A\ • B\ in positive logic.

This device is fully specified for partial power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

This single 2-input positive-OR gate is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.

The SN74LVC1G32 performs the Boolean function Y = A + B or Y = A\ • B\ in positive logic.

This device is fully specified for partial power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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技術資料

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* データシート Single 2-Input Positive-OR Gate データシート (Rev. D) 2007/06/29
* 放射線と信頼性レポート SN74LVC1G32-EP Reliability Report 2018/03/02
* VID SN74LVC1G32-EP VID V6204734 2016/06/21

設計と開発

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パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOT-SC70 (DCK) 5 Ultra Librarian
SOT-23 (DBV) 5 Ultra Librarian
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