제품 상세 정보

Number of channels 2 Output type Push-Pull Propagation delay time (µs) 0.42 Vs (max) (V) 40 Vs (min) (V) 2.4 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 4 Iq per channel (typ) (mA) 0.005 Input bias current (±) (max) (nA) 1.2 Rail-to-rail In Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125 Features POR VICR (max) (V) 40.2 VICR (min) (V) -0.2 TI functional safety category Functional Safety-Capable
Number of channels 2 Output type Push-Pull Propagation delay time (µs) 0.42 Vs (max) (V) 40 Vs (min) (V) 2.4 Vos (offset voltage at 25°C) (max) (mV) 4 Iq per channel (typ) (mA) 0.005 Input bias current (±) (max) (nA) 1.2 Rail-to-rail In Rating Automotive Operating temperature range (°C) -40 to 125 Features POR VICR (max) (V) 40.2 VICR (min) (V) -0.2 TI functional safety category Functional Safety-Capable
SOIC (D) 8 29.4 mm² 4.9 x 6 SOT-23-THN (DDF) 8 8.12 mm² 2.9 x 2.8 TSSOP (PW) 8 19.2 mm² 3 x 6.4 VSSOP (DGK) 8 14.7 mm² 3 x 4.9
  • Qualified for automotive applications
  • AEC-Q100 qualified with the following results:
    • Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
    • Device HBM ESD classification level 2
    • Device CDM ESD classification level C3
  • Wide 2.4 V to 40 V supply range
  • Low quiescent current 5 µA per channel
  • Rail-to-Rail input
  • Power-On Reset (POR) for known start-up
  • Low input offset voltage 500 µV
  • 420 ns typical propagation delay
  • Push-pull output option (TLV181x-Q1)
  • Open-drain output option (TLV182x-Q1)
  • Functional Safety-Capable
  • Qualified for automotive applications
  • AEC-Q100 qualified with the following results:
    • Device temperature grade 1: –40°C to 125°C ambient operating temperature range
    • Device HBM ESD classification level 2
    • Device CDM ESD classification level C3
  • Wide 2.4 V to 40 V supply range
  • Low quiescent current 5 µA per channel
  • Rail-to-Rail input
  • Power-On Reset (POR) for known start-up
  • Low input offset voltage 500 µV
  • 420 ns typical propagation delay
  • Push-pull output option (TLV181x-Q1)
  • Open-drain output option (TLV182x-Q1)
  • Functional Safety-Capable

The TLV181x -Q1 and TLV182x -Q1 are a family of Automotive grade 40 Volt single, dual and quad channel comparators with multiple output options. The family offers rail-to-rail inputs with push-pull or open-drain output options. The family has an excellent speed-to-power combination with a propagation delay of 420 ns with a full supply voltage range of 2.4 V to 40 V with a quiescent supply current of only 5 µA per channel.

All devices include a Power-On Reset (POR) feature. This makes sure the output is in a known state until the minimum supply voltage has been reached before the output responds to the inputs, thus preventing false outputs during system power-up and power-down.

The TLV181x -Q1 comparators have a push-pull output stage capable of sinking and sourcing milliamps of current when controlling an LED or driving a capacitive load such as a MOSFET gate.

The TLV182x -Q1 comparators have an open-drain output stage that can be pulled up to 40 V independent of comparator supply voltage.

The TLV181x -Q1 and TLV182x -Q1 are a family of Automotive grade 40 Volt single, dual and quad channel comparators with multiple output options. The family offers rail-to-rail inputs with push-pull or open-drain output options. The family has an excellent speed-to-power combination with a propagation delay of 420 ns with a full supply voltage range of 2.4 V to 40 V with a quiescent supply current of only 5 µA per channel.

All devices include a Power-On Reset (POR) feature. This makes sure the output is in a known state until the minimum supply voltage has been reached before the output responds to the inputs, thus preventing false outputs during system power-up and power-down.

The TLV181x -Q1 comparators have a push-pull output stage capable of sinking and sourcing milliamps of current when controlling an LED or driving a capacitive load such as a MOSFET gate.

The TLV182x -Q1 comparators have an open-drain output stage that can be pulled up to 40 V independent of comparator supply voltage.

다운로드 스크립트와 함께 비디오 보기 동영상

기술 자료

star =TI에서 선정한 이 제품의 인기 문서
검색된 결과가 없습니다. 검색어를 지우고 다시 시도하십시오.
2개 모두 보기
유형 직함 날짜
* Data sheet TLV181x-Q1 and TLV182x-Q1 Family of 40 V Automotive Rail-to-Rail Input Comparators with Push-Pull or Open-Drain Output Options datasheet (Rev. B) PDF | HTML 2023/09/06
Functional safety information TLV1812-Q1 TLV1822-Q1 Functional Safety, FIT Rate, Failure Mode Dist and Pin FMA PDF | HTML 2022/09/22

설계 및 개발

추가 조건 또는 필수 리소스는 사용 가능한 경우 아래 제목을 클릭하여 세부 정보 페이지를 확인하세요.

평가 보드

DIP-ADAPTER-EVM — DIP 어댑터 평가 모듈

소형 표면 실장 IC(집적 회로)와 쉽고 빠르며 경제적인 방식으로 인터페이싱하는 방법을 제공하는 DIP 어댑터 평가 모듈(DIP-ADAPTER-EVM)로 연산 증폭기 프로토타이핑 및 테스트 속도를 높이세요. 제품에 포함된 Samtec 터미널 스트립을 사용하여 지원되는 연산 증폭기를 연결하거나 기존 회로에 직접 연결할 수 있습니다.

DIP 어댑터 EVM 키트는 다음을 포함해 가장 널리 사용되는 6개의 업계 표준 패키지를 지원합니다.

  • D 및 U(SOIC-8)
  • PW(TSSOP-8)
  • DGK(MSOP-8, VSSOP-8)
  • (...)
사용 설명서: PDF
TI.com에서 구매 불가
시뮬레이션 모델

TLV181x PSpice Model (Rev. A)

SNOM762A.ZIP (1571 KB) - PSpice Model
시뮬레이션 모델

TLV181x TINA-TI Spice Model

SNOM759.ZIP (10 KB) - TINA-TI Spice Model
시뮬레이션 툴

PSPICE-FOR-TI — TI 설계 및 시뮬레이션 툴용 PSpice®

TI용 PSpice®는 아날로그 회로의 기능을 평가하는 데 사용되는 설계 및 시뮬레이션 환경입니다. 완전한 기능을 갖춘 이 설계 및 시뮬레이션 제품군은 Cadence®의 아날로그 분석 엔진을 사용합니다. 무료로 제공되는 TI용 PSpice에는 아날로그 및 전력 포트폴리오뿐 아니라 아날로그 행동 모델에 이르기까지 업계에서 가장 방대한 모델 라이브러리 중 하나가 포함되어 있습니다.

TI 설계 및 시뮬레이션 환경용 PSpice는 기본 제공 라이브러리를 이용해 복잡한 혼합 신호 설계를 시뮬레이션할 수 있습니다. 레이아웃 및 제작에 (...)
시뮬레이션 툴

TINA-TI — SPICE 기반 아날로그 시뮬레이션 프로그램

TINA-TI provides all the conventional DC, transient and frequency domain analysis of SPICE and much more. TINA has extensive post-processing capability that allows you to format results the way you want them. Virtual instruments allow you to select input waveforms and probe circuit nodes voltages (...)
사용 설명서: PDF
패키지 CAD 기호, 풋프린트 및 3D 모델
SOIC (D) 8 Ultra Librarian
SOT-23-THN (DDF) 8 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 8 Ultra Librarian
VSSOP (DGK) 8 Ultra Librarian

주문 및 품질

포함된 정보:
  • RoHS
  • REACH
  • 디바이스 마킹
  • 납 마감/볼 재질
  • MSL 등급/피크 리플로우
  • MTBF/FIT 예측
  • 물질 성분
  • 인증 요약
  • 지속적인 신뢰성 모니터링
포함된 정보:
  • 팹 위치
  • 조립 위치

권장 제품에는 본 TI 제품과 관련된 매개 변수, 평가 모듈 또는 레퍼런스 디자인이 있을 수 있습니다.

지원 및 교육

TI 엔지니어의 기술 지원을 받을 수 있는 TI E2E™ 포럼

콘텐츠는 TI 및 커뮤니티 기고자에 의해 "있는 그대로" 제공되며 TI의 사양으로 간주되지 않습니다. 사용 약관을 참조하십시오.

품질, 패키징, TI에서 주문하는 데 대한 질문이 있다면 TI 지원을 방문하세요. ​​​​​​​​​​​​​​

동영상