JAJU941B August   2024  – May 2025 DRV8162 , INA241A , ISOM8710

 

  1.   1
  2.   説明
  3.   リソース
  4.   特長
  5.   アプリケーション
  6.   6
  7. 1システムの説明
    1. 1.1 リファレンス デザインの概要
    2. 1.2 主なシステム仕様
  8. 2システム概要
    1. 2.1 ブロック図
    2. 2.2 設計の考慮事項
      1. 2.2.1 ハードウェア設計
        1. 2.2.1.1 出力段ゲート ドライバ
          1. 2.2.1.1.1 ゲート ドライバ
          2. 2.2.1.1.2 保護機能
          3. 2.2.1.1.3 VGVDD の定義
          4. 2.2.1.1.4 ストラップ機能
        2. 2.2.1.2 出力段 FET
          1. 2.2.1.2.1 VGS と RDS(ON) との関係
        3. 2.2.1.3 相電流および電圧センシング
          1. 2.2.1.3.1 A 相および B 相の電流検出
          2. 2.2.1.3.2 C 相の電流検出
          3. 2.2.1.3.3 電圧検出
        4. 2.2.1.4 ホストプロセッサインターフェイス
        5. 2.2.1.5 ゲート ドライブのシャットダウン パス
        6. 2.2.1.6 システム診断測定
          1. 2.2.1.6.1 温度測定
        7. 2.2.1.7 システムの電源
          1. 2.2.1.7.1 12V レール
          2. 2.2.1.7.2 3.3V レール
      2. 2.2.2 ソフトウェア設計
    3. 2.3 主な使用製品
      1. 2.3.1 DRV8162L
      2. 2.3.2 INA241A
      3. 2.3.3 AMC0106M05
      4. 2.3.4 TPSM861253
      5. 2.3.5 LMR38010
      6. 2.3.6 TMP6131
      7. 2.3.7 ISOM8710
  9. 3ハードウェア、ソフトウェア、テスト要件、テスト結果
    1. 3.1 ハードウェア要件
      1. 3.1.1 PCB の概要
      2. 3.1.2 ハードウェアの構成
        1. 3.1.2.1 前提条件
        2. 3.1.2.2 デフォルトの抵抗およびジャンパ構成
        3. 3.1.2.3 コネクタ
          1. 3.1.2.3.1 ホストプロセッサインターフェイス
    2. 3.2 テスト設定
    3. 3.3 テスト結果
      1. 3.3.1 パワー マネージメント
        1. 3.3.1.1 パワーアップ
        2. 3.3.1.2 パワーダウン
      2. 3.3.2 ゲート電圧と相電圧
        1. 3.3.2.1 20 VDC
        2. 3.3.2.2 48 VDC
        3. 3.3.2.3 60 VDC
      3. 3.3.3 デジタル PWM およびゲート電圧
      4. 3.3.4 相電流の測定
      5. 3.3.5 システムのテスト結果
        1. 3.3.5.1 熱解析
  10. 4設計とドキュメントのサポート
    1. 4.1 デザイン ファイル
      1. 4.1.1 回路図
      2. 4.1.2 BOM
    2. 4.2 ツールとソフトウェア
    3. 4.3 ドキュメントのサポート
    4. 4.4 サポート・リソース
    5. 4.5 商標
  11. 5著者について
  12. 6改訂履歴

3.2 テスト設定

表 3-4 に、TIDA-010956 のテストセッションで使用される機器を示します。

表 3-4 DRV8162L の設定
試験装置部品番号
オシロスコープTektronix DPO3054
プローブTektronix TPP0200
電流プローブCYBERTEK CP8500A
PMSM モーターGLOBE6440
電源Agilent 6030A、ITECH IT6724H

各種テストで、表 3-4 で説明されている機器の一部が使用されます。図 3-2 では、システムで使用するテストセットアップを示しています。

TIDA-010956 TIDA-010956 システムのテスト構成図 3-2 TIDA-010956 システムのテスト構成

特に記述のない限り、DRV8162L チップは、テスト中 表 3-5 に示すように設定されています。

表 3-5 DRV8162L の設定
IDRIVEP1024mAIDRIVE1 = LEVEL0 (VIDRIVE1 = 0kΩ) および
IDRIVE2 = LEVEL0 (VIDRIVE2 = 0kΩ)
IDRIVEN2048mA
VDSLVL

LEVEL1-0：0.15V または LEVEL1-1：0.2V

LEVEL1 (RVDSLVL = 2kΩ)
DEAD_TIME370ns デッド タイムLEVEL3 (RDT = 3.3kΩ)

テストでは、LAUNCHXL-F280039C の C2000™ LaunchPad を使用してシステムが制御されます。表 3-6 に、関連する MCU ソフトウェア設定を示します。

表 3-6 C2000 MCU の設定
PWM16kHzデッド タイム200ns

各種テストで異なるセットアップが使用されます。これらについては、関連するテストのセクションに記載しています。