JAJU941B August 2024 – May 2025 DRV8162 , INA241A , ISOM8710
これらのテストでは、まずローサイドチャネルで PWM 信号と MOSFET ゲート電圧の間の伝搬遅延を測定し、次にハイサイドとローサイドのデジタル PWM 間のデッドタイムと MOSFET のゲート電圧を測定します。図 3-19 にテスト構成を示します。
本システムでは、これらのテストにおいて 48V の VIN が使用され、モーターは開ループ制御で固定角度に設定されています。信号は C 相で測定し、すべての信号は GND を基準としています。
図 3-20 および図 3-21 に、ターンオン時 / ターンオフ時の伝搬遅延を示します。
図 3-20 ターンオン時の伝搬遅延
図 3-21 ターンオフ時の伝搬遅延ターンオン時の遅延の測定値は約 200ns、ターンオフ時の遅延の測定値は約 70ns です。ターンオン時の遅延は、DRV8162L で DT ピンと GND の間に 3.3kΩ RDT を接続して追加のデッドタイムを導入しているため、約 130ns 長くなっています。
図 3-22 と図 3-23 に、PWM 信号の 200ns のデッドタイムと、ハーフ ブリッジが Low から High にスイッチングしているときの (CL は CH2、CH は CH3) 対応するゲート電圧を示します。
ハイサイドゲート電圧とローサイドゲート電圧間のデッドタイムは、DRV8162L により約 340ns に延長されています。
図 3-24 と図 3-25 に、ハーフ ブリッジが High から Low に切り替わる様子を示します。RDT 設定により、デッドタイムも約 340ns に延長されています。
この DRV8162L により、自動的にデッド タイムが挿入されます。挿入されるデッド タイムは、RDT の値に応じて 20ns〜370ns の範囲で変化させることができます。詳細については、データシートをご覧ください。