Este diseño de referencia proporciona un ejemplo práctico de convertidores analógico a digital (ADC) de muestreo de RF intercalados para lograr una velocidad de muestreo de 12.8 GSPS. Esto se hace intercalando temporalmente dos ADC de muestreo de RF. El intercalado requiere un cambio de fase entre los ADC, que este diseño de referencia logra mediante la función de ajuste de retardo de apertura sin ruido (ajuste tAD) del ADC12DJ3200. Esta función también se utiliza para minimizar los desajustes típicos de los ADC intercalados: maximizar el rendimiento de relación señal-ruido SNR, ENOB y SFDR. En este diseño de referencia también se incluye un árbol de reloj de bajo ruido de fase compatible con JESD204B. Se implementa utilizando el PLL de banda ancha LMX2594 y el sintetizador y limpiador de fluctuación LMK04828.
Funciones
- Velocidad de muestreo de hasta 12.8 GSPS mediante el uso de ADC de muestreo de RF de 12 bits intercalados en el tiempo
- Soporte de parte frontal analógica de hasta 6-GHz de ancho de banda
- Ajuste de fase del reloj de muestra fino (resolución de 19 fs)
- Sincronización de fase de varios ADC
- Diseño de referencia de potencia complementario con una eficiencia de >85 % en la entrada 12 V
- JESD204B compatible con 8-, 16- o 32-JESD carriles y velocidades de datos de hasta 12.8 Gbps por carril