測試與量測
運用我們的類比與嵌入式處理產品和專業，達到更高測試密度，減少測試時間並提升準確度
利用我們的高性能訊號鏈、電源與處理器產品，打造創新且與眾不同的儀器與電子測試設備。我們提供領先業界的產品和特定應用的參考設計資源，幫助您解決最常見設計難題，加快上市時間。我們也能在電池化成和半導體 ATE 等應用中實現可擴展性和高性能。
為何選擇 TI 產品進行測試和量測應用？
最低雜訊的設計
運用我們的高性能訊號鏈，低雜訊功率產品與參考設計，獲得最高 SNR 性能，加快上市時間。
通道密度最大化
運用我們創新的封裝技術與產品，縮小訊號鏈及電源解決方案的尺寸以進行設計整合。
達到高精密度和準確度
透過最新精密 ADC 與放大器符合您的性能需求，並強化性價比。
設計測試和測量的下一代產品
提高測試通道密度以滿足對 IC 的日益增長的需求，並增加 VI 儀器所需支援的電壓與電流。我們的功率放大器、開關和電源模組可縮減解決方案尺寸，增加測試通道密度。
Application brief
Pairing up Op Amp and Buffer for Higher Output Power Plus Speed in ATE
此應用說明主要探討使用精密放大器與高輸出電流緩衝器來達到主要系統需求的複合放大器迴路。
Application brief
How to Select Precision Amplifiers for Semiconductor Testers (Rev. A)
半導體測試設備是重要且持續進化的產業。隨著半導體和積體電路不斷進化及拓寬電子產品的限制，測試設備必須持續改進。
Application note
When to Replace a Relay with a Multiplexer
光繼電器、機械繼電器和平導通電阻多工器 - 在本應用說明中，我們回顧這三種解決方案在性能，成本，尺寸和可靠性方面的差異。
將雜訊降到最低，這是工程師在設計對雜訊敏感的系統時，常遇到的一大挑戰，例如時脈、資料轉換器或放大器。雖然每個人對「雜訊」一詞的定義不盡相同，我們會將雜訊定義成由電路中電阻器和電晶體所產生的低頻率熱雜訊。
您可透過頻譜雜訊密度曲線 (單位為微伏特/平方根赫茲) 來識別雜訊，或是以均方根微伏特為單位找出整合式輸出雜訊 (通常為 100 Hz 至 100 kHz 間特定範圍)。我們提供可協助緩解可能影響訊號鏈裝置性能的潛在雜訊耦合的產品與參考設計。
Technical article
What is a low noise inverting buck converter?
您的資料轉換器或放大器需要負電壓供電嗎？這類系統通常需要低雜訊來為這類敏感類比電路供電。低雜訊反相降壓轉換器如何運作？閱讀更多。
Analog Design Journal
Designing a modern power supply for RF sampling converters
了解如何利用新的直接射頻採樣架構解決系統功耗問題，該架構可簡化接收器訊號鏈，並降低系統功耗。
More literature
Low-noise and low-ripple techniques for a supply without an LDO PPT
電源供應器設計研討會：不具 LDO 電源供應的低雜訊及低漣波技術詳細摘要
設計與開發資源
參考設計
適合 50-A、100-A 及 200-A 應用的模組化電池測試器參考設計
This reference design provides a modular battery test solution allowing users to have the flexibility to test batteries at different current levels with one design. This design leverages the TIDA-01041 reference design by providing two 100-A battery testers that can work independently or be (...)
參考設計
Digital control cost-optimized 10-A battery formation and test reference design
This reference design provides a cost-effective solution for battery formation and test applications. This design uses the C2000™ real-time control MCU for high-resolution pulse-width modulation (PWM) generation, and constant-current (CC) and constant-voltage (CV)
control loops. It efficiently (...)
control loops. It efficiently (...)
參考設計
LCR 測試儀類比前端參考設計
This reference design, TIDA-060029 demonstrates an analog signal chain solution for LCR Meter applications using an auto balancing impedance measurement method.
Featured products
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