JAJSW88A March 2025 – September 2025 AM62L
PRODUCTION DATA
デバイスごとのパッケージ図は、PDF版データシートをご参照ください。
読み出し/ 書き込みデータ有効ウィンドウは、プロセス、電圧、温度、動作周波数の変動によって変化します。最適な読み出し / 書き込みタイミングを動的に構成するために、データ トレーニング手法を実装することもできます。データ トレーニングを実装すると、特定のプロセス、電圧、周波数の動作条件において、温度範囲全体にわたって適切な動作を実現すると同時に、より高い動作周波数を実現できます。
データの送受信タイミング パラメータは、動作条件に基づいて動的に調整されるため、データ トレーニングの使用事例では定義されていません。
表 6-112 は、データ トレーニング付きの OSPI0 に必要な DLL 遅延を定義しています。表 6-113、図 6-101、図 6-102、表 6-114、図 6-103、図 6-104 に、データ トレーニング付き OSPI0 のタイミング要件とスイッチング特性を示します。
| モード | レジスタ ビット フィールド | 遅延値 |
|---|---|---|
| OSPI_PHY_CONFIGURATION_REG | ||
| 送信 | ||
| すべてのモード | PHY_CONFIG_TX_DLL_DELAY_FLD | (1) |
| 受信 | ||
| すべてのモード | PHY_CONFIG_RX_DLL_DELAY_FLD | (2) |
| PHY_MASTER_CONTROL_REG | ||
| すべてのモード | PHY_MASTER_PHASE_DETECT_SELECTOR_FLD | 0x1 |
| 番号 | モード | 最小値 | 最大値 | 単位 | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| O15 | tsu(D-LBCLK) | セットアップ時間、OSPI0_D[7:0] 有効から OSPI0_DQS のエッジまで | DQS 付き DDR | (1) | ns | |
| O16 | th(LBCLK-D) | ホールド時間、OSPI0_DQS のアクティブ エッジ後に OSPI0_D[7:0] を有効に保持すべき時間 | DQS 付き DDR | (1) | ns | |
| O21 | tsu(D-LBCLK) | セットアップ時間、OSPI0_D[7:0] 有効から OSPI0_DQS のエッジまで | 外部ボード ループバック付き SDR | (1) | ns | |
| O22 | th(LBCLK-D) | ホールド時間、OSPI0_DQS のアクティブ エッジ後に OSPI0_D[7:0] を有効に保持すべき時間 | 外部ボード ループバック付き SDR | (1) | ns | |
| tDVW | データ有効ウィンドウ (O15 + O16) | DQS 付き DDR | 1.6 | ns | ||
| データ有効ウィンドウ (O21 + O22) | 外部ボード ループバック付き SDR | 2.3 | ns | |||
図 6-101 OSPI0 のタイミング要件 – PHY データ トレーニング、DQS 付き DDR
図 6-102 OSPI0 のタイミング要件 – PHY データ トレーニング、外部ボード ループバック付き SDR| 番号 | パラメータ | モード | 最小値 | 最大値 | 単位 | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| O1 | tc(CLK) | サイクル時間、OSPI0_CLK | DDR | 6.0 | 10 | ns |
| O7 | SDR | 6.0 | 10 | ns | ||
| O2 | tw(CLKL) | パルス幅、OSPI0_CLK low | DDR | ((0.475P(1)) - 0.3) | ns | |
| O8 | SDR | |||||
| O3 | tw(CLKH) | パルス幅、OSPI0_CLK high | DDR | ((0.475P(1)) - 0.3) | ns | |
| O9 | SDR | |||||
| O4 | td(CSn-CLK) | 遅延時間、OSPI0_CSn[3:0] アクティブ エッジから OSPI0_CLK 立ち上がりエッジまで | DDR | ((0.475P(1)) + (0.975M(2)R(4)) + (0.04TD(5)) - 1) | ((0.525P(1)) + (1.025M(2)R(4)) + (0.11TD(5)) + 1) | ns |
| O10 | SDR | |||||
| O5 | td(CLK-CSn) | 遅延時間、OSPI0_CLK 立ち上がりエッジから OSPI0_CSn[3:0] 非アクティブ エッジまで | DDR | ((0.475P(1)) + (0.975N(3)R(4)) - (0.11TD(5)) - 1) | ((0.525P(1)) + (1.025N(3)R(4)) - (0.04TD(5)) + 1) | ns |
| O11 | SDR | |||||
| O6 | td(CLK-D) | 遅延時間、OSPI0_CLK アクティブ エッジから OSPI0_D[7:0] 遷移まで | DDR | (6) | (6) | ns |
| O12 | SDR | |||||
| tDIVW | データ無効ウィンドウ (O6 最大 - 最小) | DDR | 1.6 | ns | ||
| データ無効ウィンドウ (O12 最大 - 最小) | SDR | |||||
図 6-103 OSPI0 のスイッチング特性 - PHY DDR データ トレーニング
図 6-104 OSPI0 のスイッチング特性 - PHY SDR データ トレーニング