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INA1H94-SEP

ACTIVO

Radiation-tolerant, high common-mode voltage difference amplifier

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INA1H94-SEP

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Detalles del producto

Number of channels 1 Vs (min) (V) 4 Vs (max) (V) 18 CMRR (min) (dB) 84 Common-mode input low (min) (V) -150 Common-mode input high (max) (V) 150 Input offset (±) (max) (V) 0.0035 Iq (typ) (mA) 0.81 Slew rate (typ) (V/µs) 5 Voltage gain (min) (V/V) 1 Voltage gain (max) (V/V) 1 Small-signal bandwidth (typ) (Hz) 500000 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125 Gain error (±) (max) (%) 0.65
Number of channels 1 Vs (min) (V) 4 Vs (max) (V) 18 CMRR (min) (dB) 84 Common-mode input low (min) (V) -150 Common-mode input high (max) (V) 150 Input offset (±) (max) (V) 0.0035 Iq (typ) (mA) 0.81 Slew rate (typ) (V/µs) 5 Voltage gain (min) (V/V) 1 Voltage gain (max) (V/V) 1 Small-signal bandwidth (typ) (Hz) 500000 Rating Space Operating temperature range (°C) -55 to 125 Gain error (±) (max) (%) 0.65
SOIC (D) 8 29.4 mm² (4.9 mm × 6 mm)
  • Radiation tolerant
    • Total ionizing dose (TID) RLAT for every wafer up to 30krad(Si)
    • ELDRS-free up to TID = 30krad(Si)
    • Single event latch-up (SEL) immune to 43MeV×cm2 /mg
    • Single event effect (SEE) characterized to 43MeV×cm2 /mg
  • Space enhanced plastic
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • One assembly and test site
    • One Fabrication site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Outgassing test performed per ASTM E595
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
  • Common-mode voltage range: ±150V
  • Minimum CMRR: 84dB from –55°C to +125°C
  • DC specifications:
    • Maximum gain error: 0.067%
    • Typical gain error drift: 1.5ppm/°C
    • Typical gain nonlinearity: 0.0005% FSR
  • AC performance:
    • Small-signal bandwidth: 500kHz
    • Typical slew rate: 5V/µs
  • Wide supply range: ±2V to ±9V
  • Radiation tolerant
    • Total ionizing dose (TID) RLAT for every wafer up to 30krad(Si)
    • ELDRS-free up to TID = 30krad(Si)
    • Single event latch-up (SEL) immune to 43MeV×cm2 /mg
    • Single event effect (SEE) characterized to 43MeV×cm2 /mg
  • Space enhanced plastic
    • Supports defense and aerospace applications
    • Controlled baseline
    • One assembly and test site
    • One Fabrication site
    • Extended product life cycle
    • Product traceability
    • Outgassing test performed per ASTM E595
    • Au bondwire and NiPdAu lead finish
  • Common-mode voltage range: ±150V
  • Minimum CMRR: 84dB from –55°C to +125°C
  • DC specifications:
    • Maximum gain error: 0.067%
    • Typical gain error drift: 1.5ppm/°C
    • Typical gain nonlinearity: 0.0005% FSR
  • AC performance:
    • Small-signal bandwidth: 500kHz
    • Typical slew rate: 5V/µs
  • Wide supply range: ±2V to ±9V

The INA1H94-SEP is a radiation-hardened precision unity-gain difference amplifier with a very high input common-mode voltage range. The INA1H94-SEP is a single, monolithic device that consists of a precision op amp and an integrated thin-film resistor network. The INA1H94-SEP can accurately measure small differential voltages in the presence of common-mode signals up to ±150V.

In many applications where galvanic isolation in not required, the INA1H94-SEP can replace isolation amplifiers. The INA1H94-SEP can help eliminate costly isolated input side power supplies, along with the associated ripple, noise, and quiescent current. The excellent 0.0005% typical nonlinearity, high common-mode, and 500kHz bandwidth of the INA1H94-SEP makes for a compelling sensor readout device.

The INA1H94-SEP is a radiation-hardened precision unity-gain difference amplifier with a very high input common-mode voltage range. The INA1H94-SEP is a single, monolithic device that consists of a precision op amp and an integrated thin-film resistor network. The INA1H94-SEP can accurately measure small differential voltages in the presence of common-mode signals up to ±150V.

In many applications where galvanic isolation in not required, the INA1H94-SEP can replace isolation amplifiers. The INA1H94-SEP can help eliminate costly isolated input side power supplies, along with the associated ripple, noise, and quiescent current. The excellent 0.0005% typical nonlinearity, high common-mode, and 500kHz bandwidth of the INA1H94-SEP makes for a compelling sensor readout device.
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Documentación técnica

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* Hoja de datos INA1H94-SEP Radiation-Tolerant, High Common-Mode Voltage Difference Amplifier datasheet PDF | HTML 18/12/2025
* Informe de radiación y confiabilidad INA1H94-SEP Production Flow and Reliability Report PDF | HTML 8/12/2025
* Informe de radiación y confiabilidad INA1H94-SEP Radiation-Tolerant, High Common-Mode Voltage Difference Amplifier TID Report 5/12/2025
* Informe de radiación y confiabilidad INA1H94-SEP Single-Event Effects (SEE) Radiation Report PDF | HTML 3/12/2025
Product overview ±150V Common-Mode Difference Amplifiers for Voltage and High-Side Current Sensing in GEO and LEO Platforms PDF | HTML 24/04/2026
Guía de selección TI Space Products (Rev. L) 27/03/2026

Diseño y desarrollo

Para conocer los términos adicionales o los recursos necesarios, haga clic en cualquier título de abajo para ver la página de detalles cuando esté disponible.

Modelo de simulación

INA1H94-SEP PSpice Reference Design Model

SBOMCS0.ZIP (28 KB) - Modelo PSpice
Productos y hardware compatibles
Modelo de simulación

INA1H94-SEP TINA-TI Linear Operation Checker

SBOMCS3 (38 KB) - Modelo TINA-TI Spice
Productos y hardware compatibles
Modelo de simulación

INA1H94-SEP TINA-TI Reference Design

SBOMCS2 (83 KB) - Diseño de referencia TINA-TI
Productos y hardware compatibles
Modelo de simulación

INA1H94-SEP TINA-TI SPICE Model

SBOMCS1.ZIP (4 KB) - Modelo TINA-TI Spice
Productos y hardware compatibles
Herramienta de cálculo

ANALOG-ENGINEER-CALC — PC software analog engineer's calculator

La calculadora del ingeniero analógico está diseñada para acelerar muchos de los cálculos repetitivos que los ingenieros de diseño de circuitos analógicos utilizan de forma habitual. Esta herramienta para PC proporciona una interfaz gráfica con una lista de varios cálculos comunes que van desde el (...)

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