ADS8900B

シミュレーション・モデル

ADS8900B TINA-TI Transient Spice Model ADS8900B TINA-TI Transient Spice Model

シミュレーション・モデル

ADS8900B TINA-TI Reference Design ADS8900B TINA-TI Reference Design

シミュレーション・モデル

ADS890XB IBIS Model (Rev. A) ADS890XB IBIS Model (Rev. A)

シミュレーション・モデル

ADS8900B PSpice Model ADS8900B PSpice Model

シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)

リクエスト

シミュレーション・ツール

TINA-TI SPICE ベースのアナログ・シミュレーション・プログラム

TINA-TI は、DC 解析、過渡解析、周波数ドメイン解析など、SPICE の標準的な機能すべてを搭載しています。TINA には多彩な後処理機能があり、結果を必要なフォーマットにすることができます。仮想計測機能を使用すると、入力波形を選択し、回路ノードの電圧や波形を仮想的に測定することができます。TINA の回路キャプチャ機能は非常に直観的であり、「クイックスタート」を実現できます。

TINA-TI をインストールするには、約 500MB が必要です。インストールは簡単です。必要に応じてアンインストールも可能です。(そのようなことはないと思いますが)

TINA は DesignSoft (...)

計算ツール

ADC-INPUT-CALC Analog-to-digital converter (ADC) input driver design tool supporting multiple input types

ADC-INPUT-CALC は A/D コンバータ（ADC）に対する入力バッファの設計をサポートするオンライン・ツールです。ADC 入力の駆動に使用可能な 24 種類のオペアンプ・ベース・バッファ回路を用意しています。使用可能なトポロジーは差動、シングルエンド、トランス結合型入力です。AC 結合型と DC 結合型の設計、単一電源とデュアル電源トポロジーをサポートしています。Beginner モードと Expert モードの 2 つのモードを提供しています。Beginner (...)

設計を開始

計算ツール

ANALOG-ENGINEER-CALC アナログ技術者向けカリキュレータ

アナログ・エンジニア向けカリキュレータは、アナログ回路設計エンジニアが日常的に繰り返し行っている計算の多くを迅速化します。この PC ベース・ツールはグラフィカル・インターフェイスにより、帰還抵抗を使用したオペアンプのゲイン設定から、A/D コンバータ（ADC）のドライブ・バッファ回路の安定化に最適な部品の選択に至るまで、一般的に行われている各種計算のリストを表示します。スタンドアロン・ツールとして使用できるほか、『アナログ回路設計式一覧ポケット・ガイド』で説明されているコンセプトと組み合わせることもできます。

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リファレンス・デザイン

TIDA-01351 — 超音波 CW ドップラー向け高精度、高 SNR、真のロー・データ変換のリファレンス・デザイン

このリファレンス・デザインは連続波 (CW) シグナル・コンディショニングであり、超音波画像処理システム (チャネル数が 64、128、192、256 のいずれかである超音波システム) に適しています。このデザインは、20 ビットの完全差動型同時サンプリングに対応しており、真の未処理データを提供するので、その後の処理に利用できます。I チャネルと Q チャネル用の完全差動信号パスを実装しています。各チャネルは、高性能の逐次比較型 A/D コンバータ (ADC) (ADS8900B)、完全差動型の高精度アンプ (THS4551)、低ノイズのデュアル低ドロップアウト (LDO) (...)

リファレンス・デザイン

TIDA-01054 — 高性能 DAQ システムの EMI 効果排除向けマルチレール電源のリファレンス・デザイン

TIDA-01054 リファレンス・デザインは LM53635 降圧コンバータを使用し、16 ビット超のデータ・アクイジション（DAQ）システムに EMI がもたらす性能低下の影響を排除します。降圧コンバータにより、基板面積を節減するとともに EMI によるノイズ劣化を招かずに、電源ソリューションをシグナルパスに近接配置できます。このリファレンス・デザインにより、20 ビットの1MSPS 逐次比較型（SAR）ADC を使用する場合に、100.13dB のシステム SNR 性能を実現できます。これは、外部電源を使用する場合の 100.14dB という SNR 性能に匹敵する値です。

リファレンス・デザイン

TIDA-01057 — 10Vpp の真の差動入力に対応し、信号ダイナミック・レンジを最大化する最大 20 ビットの ADC のリファレンス・デザイン

This reference design is designed for high performance data acquisition(DAQ) systems to improve the dynamic range of 20 bit differential input ADCs. Many DAQ systems require the measurement capability at a wide FSR (Full Scale Range) in order to obtain sufficient signal dynamic range. Many earlier (...)

リファレンス・デザイン

TIDA-01056 — 電源効率の最適化と EMI の最小化を実現する 20 ビット、1MSPS DAQ（データ・アクイジション）のリファレンス・デザイン

This reference design for high performance data acquisition (DAQ) systems optimizes power stage in order to reduce power consumption and minimize the effect of EMI from switching regulator by using LMS3635-Q1 buck converter. This reference designs yields 7.2% efficiency improvement at most (...)

リファレンス・デザイン

TIDA-01037 — SNR とサンプル・レートを最大化する 20 ビット、1MSPS アイソレータの最適化されたデータ・アクイジションのリファレンス・デザイン

TIDA-01037 は 20 ビット、1MSPS の絶縁型アナログ入力データ・アクイジションのリファレンス・デザインです。2 個の異なるアイソレータ・デバイスを使用し、シグナル・チェーンの SNR とサンプル・レート性能を最大化します。ADC サンプリング・クロックなど低ジッタを必要とする信号の場合は TI の ISO73xx 低ジッタ・デバイス・ファミリが使用されますが、TI の高速 ISO78xx デバイス・ファミリは、データ・サンプル・レートを最大化するために使用されます。これら 2 (...)

リファレンス・デザイン

TIDA-01035 — 最大 SNR とサンプル・レートのためにジッタを最適化する 20 ビット絶縁型データ・アクイジションのリファレンス・デザイン

The TIDA-01035 is a 20-bit, 1 MSPS isolated analog input data acquisition reference design demonstrating how to resolve and optimize performance challenges typical of digitally isolated data acquisition systems.

Significantly improves high frequency AC signal chain performance (SNR and THD) by (...)

リファレンス・デザイン

TIPD211 — 試験 / 計測向け、20 ビット、1MSPS、4 チャネル、小型フォーム・ファクタ設計のリファレンス・デザイン

End equipment such as mixed signal SOC testers, memory testers, battery testers, liquid-crystal display (LCD) testers, benchtop equipment, high-density digital cards, high-density power cards, x-Ray, MRI, and so forth require multiple, fast, simultaneous sampling channels with excellent DC and AC (...)